Атомын хүчний микроскоп

Atomic force microscopy – Атомын хүчний микроскоп

Атомын хүчний микроскоп (AFM) нь сканнердах сорьцын микроскопын нэг төрөл бөгөөд атомын түвшинд (нанометрийн хэмжээтэй) дүрслэх чадвартай. Иймээс дүрслэл хийх, хэмжилт хийх болон маш жижиг биетүүдийг удирдан ажиллуулах хамгийн чухал багажуудын нэг юм.Энэхүү төхөөрөмж нь маш хурц үзүүртэй жижиг консол (cantilever)-ыг дээжийн гадаргуу дээгүүр механикаар хөдөлгөн сканнердах зарчмаар ажилладаг. Үзүүр нь гадаргууд ойртох үед үзүүр болон дээжийн атомуудын хооронд үүсэх хүчний нөлөөгөөр консол бага зэрэг нугарч, тэр өөрчлөлтийг лазерын тусгалын системээр маш нарийн хэмждэг.Химийн хатуу боловсруулалт болон вакуум орчин шаарддаг уламжлалт электрон микроскопоос ялгаатай нь атомын хүчний микроскоп нь биологийн молекул, ДНХ-ийн гинж болон амьд эсийг байгалийн шингэн орчинд нь дүрслэх боломжтой.Энэ чадвар нь эрдэмтдэд молекулын динамик үйл явцыг бодит цаг хугацаанд ажиглах, молекул хоорондын холбогдох хүчийг хэмжих, цаашлаад өндөр нарийвчлалтайгаар тус тусын атом, молекулыг хүртэл удирдах боломжийг олгодог.